一、**提示
1、系統的操作、維護應由能勝任的相關專業人員進行。
2、現場電壓高達幾萬伏,試驗人員應嚴格遵守所有**預防措施。試驗區域應有明顯、清晰的警示牌,現場任何人都應該知道高壓區域。直接從事的測量人員應了解測量回路中所有帶電元件、高壓元件,不直接從事測量的人員應被隔離在試驗區域之外。在試驗過程中及上電后,任何人不得進入高壓區。
3、在試驗以前,操作人員應掌握測試線路、測試方法、測試步驟和測試目的。
4、試驗現場要整潔、干凈,不應存放其他無關的物品。在高壓區間的地面上不應有雜亂的金屬小塊(如裸銅線段、螺絲、螺帽和其它小金屬塊等),被試品、升壓變壓器、耦合電容等應與周圍保持適當距離。
5、被試品、升壓變壓器、耦合電容等表面應保持干燥清潔,因為表面的濕氣和污垢會引起表面的局部放電,導致測量異常。
6、高壓導線應盡可能短而粗,以防止電暈,可采用蛇皮管等。試驗回路所圍的面積盡可能小,以降低干擾的引入。電壓等級高的高壓端應加防電暈帽。試驗區各種金屬物體應牢固接地,不能懸浮,檢查并改善試驗區內一切可能放電的部位(如不能有尖、銳角),特別注意各種地線是否良好接地。
7、在試驗開始加壓前,試驗人員必須詳細而全方面地檢查一遍線路,以免線路接錯。特別應關注接地線、高壓線和強電回路的連線是否牢固連接。
8、試驗異常時,應首先切斷電源,再作進一步處理。
二、功能特點
測量通道:2/4/6通道測量,獨立的信號調理、AD采樣、處理、顯示,且實現同步采樣。
測量功能:可檢測局部放電幅值、極性、相位、放電起始電壓、熄滅電壓、次數等相關參數。
同步功能:內、外同步任意選擇,且具有零標指示和相位分辨功能。
顯示方式:可選擇橢圓、直線、正弦及二維、三維等界面顯示局部放電信號,可直觀的分析測試過程中信號的頻率、相位、幅度以及試驗電壓之間的相互關系。
局部放大:可對單個或某一段放電信號進行波形分析,確定信號的性質。
開窗功能:可在任意指定相位開窗(消隱),用于特別顯示(或屏蔽)指定相位的信號(干擾)。
同步消隱:在配合阻抗單元和耦合電容的情況下,可對來自地網、試驗電源和試驗現場空間的干擾進行同步濾除。
極性鑒別:可通過放電信號的脈沖極性區分,是試品內部,還是外部的放電,有效去除外部干擾。
頻譜分析:基于FFT算法實現的頻譜分析與FIR數字濾波功能。
增益可調:在量程切換跨度內,實現增益連續可調。
保存打印:可保存單次放電的數據,也可記錄一段時間的局部放電圖形及相關參數,保存的數據可回放和重現方便后期分析。對單次放電的數據提供打印功能。
三、局部放電測試系統
1、系統概述
是按照DL/T846.4-2004 《高電壓測試設備通用技術條件》、GB/T 7354-2003 《局部放電測量》開發的,應用于電力系統設備運行維護的局部放電測試,儀器結構緊湊、攜帶方便,抗干擾能力強。適用于各種電壓等級和容量的變壓器、發電機、互感器、套管、GIS、電容器、CVT、電力電纜、開關等高壓電氣設備的局部放電檢測。
系統主要由主機、輸入阻抗單元、校準脈沖發生器、耦合電容分壓器(外零標輸入)、PC機(分體機)以及連接電纜等組成。
2、主機
(1)面板結構
一體機前面板結構圖
一體機后面板結構圖
分體機面板
(2)主機硬件框圖
采用脈沖電流法。硬件框圖如下:
由上圖可知被測信號有兩個:一個是來自輸入耦合單元的放電脈沖信號,另一個是來自試驗電源經分壓后的試驗電壓信號
主機硬件框圖
每個通道的輸入信號獨立的經過前級低通濾除部分低頻信號,再經過衰減或放大處理,然后經過細調增益控制,經過更精密上等的高低通濾波,進一步篩選出放電信號,經過高速寬頻帶12位AD轉換器進行模數轉換,得到的數據經過FPGA存儲在緩存SDRAM中,再由FPGA通過USB(或以太網)上傳給PC機或工控主機系統進行顯示。
試驗電壓信號經過電壓互感器隔離變換成小信號,小信號分兩路:一路經過調理得到試驗電壓的外零標信號,另一路經過有效值轉換和A/D轉換得到試驗電壓數據。該數據由FPGA送給PC機或工控主機系統進行顯示。
3、輸入阻抗單元
本系統的放電脈沖檢測阻抗,又稱耦合裝置或輸入單元,包括耦合電容和輸入單元,是測試系統和測試回路的主要組成部分,輸入單元針對特定的試驗回路或試品,為達到*佳的靈敏度而專門設計的。本系統配備了十三種獨立的輸入單元,其中第十三種為專用單元。面板示意如下圖:
系統配備的輸入單元是RLC型檢測阻抗,是一種調諧型阻抗。檢測阻抗的檢測回路及等效電路,如圖所示:
圖b是圖a的等值電路,它是一電感、電容并聯電路,當電路諧振時,在Ct和Lm兩端產生較高的諧振電壓。當測量回路一經確定,測量回路的諧振電容便可求得。而且,測量系統的測量中心頻率f0也是已知的。因此只要恰當選擇測量阻抗電感值Lm。使時,便可達到足夠高的測量靈敏度。
系統備有12個獨立檢測阻抗,足以滿足選擇之要求。
輸入單元序號
|
調諧電容范圍
|
允許電流有效值
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不平衡電路
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平衡電路
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1
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6-25-100微微法
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30mA
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0.25 A
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2
|
25-100-400微微法
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60mA
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0.5A
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3
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100-400-1500微微法
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120mA
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1A
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4
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400-1500-6000微微法
|
0.25A
|
2A
|
5
|
1500-6000-25000微微法
|
0.5A
|
4A
|
6
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0.006-0.025-0.1微法
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1A
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8A
|
7
|
0.025-0.1-0.4微法
|
2A
|
15A
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8
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0.1-0.4-1.5微法
|
4A
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30A
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9
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0.4-1.5-6.0微法
|
8A
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60A
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10
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1.5-6.0-25微法
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15A
|
120A
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11
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6.0-25-60微法
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25A
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200A
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12
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25-60-250微法
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50A
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300A
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7R
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電阻
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2A
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15A
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只要選取檢測阻抗的調諧電容Ct的中心值等于測量回路的諧振電量Ct,可使測量回路的靈敏度足夠高。一般使Ct值落入Ct的范圍就可以了。
根據試品的容量Cx,耦合電容的大小Ck,選取適合序號的輸入單元。表中調諧電容量系指與輸入單元初級繞組并聯的電容(粗略估算以按試品容量與耦合電容的容量串聯計算)。例如:試品容量為500pF,耦合電容量為1000pF,則所需檢測阻抗為 500×1000/(500+1000)=333.33,查表可取3號單元。
輸入單元應盡量靠近試品,輸入單元經測量電纜與放大器輸入插座相連。
本測試系統采用的是脈沖電流法進行局部放電測量,該方法的基本測試回路通常有三種:并聯測試回路、串聯測試回路和平衡回路(橋式回路)。
注:Cx:代表試品電容。
Zm:代表檢測阻抗。
Ck:代表耦合電容,它的作用是為Cx與Zm之間提供一個低阻抗通道。
Z:代表接在電源和測量回路間的低通濾波器,Z可以讓工頻電壓作用到試品上,但阻止被測的高頻脈沖或電源中的高頻分量通過。
圖a為并聯回路,多用于試品電容Cx較大,試驗電壓下,試品工頻電容電流超出檢測阻抗Zm允許值,或試品有可能被擊穿,或試品無法與地分開的情況。該測量回路應用較多。
圖b為串聯回路,多用于試品電容Cx較小,試驗電壓下,試品工頻電容電流符合檢測阻抗Zm允許值時,耦合電容Ck兼有濾波(抑制外部干擾)和提高測量靈敏度的作用,其效果隨Cx/Ck的增大而提高。Ck也可以用高壓引線的雜散電容Cs來代替。這樣,可使線路更為簡單,從而減少過多的高壓引線和聯結頭,避免電暈干擾,該方法多用于220kV及以上的產品試驗。試品的低壓端必須與地絕緣。
圖c為平衡測試回路,利用電橋平衡原理將外來干擾信號平衡掉,因而這種回路的抗干擾能力較強。但是,由于平衡測試回路,利用電橋的平衡條件和頻率有關,因此有當Cx和Ck的電容量比較接近時,才有可能同時完全平衡掉各種外來干擾。平衡測試回路的靈敏度一般低于直接測試回路。