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回路電阻測試儀合成電阻的設(shè)計(jì)


回路電阻測試儀合成電阻的設(shè)計(jì),以取代精密電阻箱、電位器。把電阻箱改成了由繼電阻切換可輸出所需阻值[1],但其體積大且串接了繼電器接觸電阻。用數(shù)字電位器通過切換半導(dǎo)體電阻來得到可變的阻址,由于串入較大開關(guān)導(dǎo)通電阻且溫度穩(wěn)定性差,無法獲得精密電阻值及高分辨率。用運(yùn)放等構(gòu)成單口網(wǎng)絡(luò),通過編程得到輸入電壓及電流的比值,即可獲得可編程的線性電阻。這種阻抗合成技術(shù)可獲得很高精度的輸出電阻,如WAVETEK公司的9100型多功校準(zhǔn)源[2]就采用了合成電阻。
1 電阻設(shè)計(jì)
合成電阻的電路原理圖如圖1所示,由輸入運(yùn)放、D/A輪換器、模擬開關(guān)、輸出運(yùn)放及失調(diào)調(diào)零電路構(gòu)成。施加于標(biāo)準(zhǔn)電阻一端的輸入電壓值經(jīng)過緩沖放大、比例調(diào)節(jié)后,反饋到標(biāo)準(zhǔn)電阻的另一端,以此來控制輸入電流,從而確定輸入電阻值。
運(yùn)算放在器A1接成電阻跟隨器形式,輸出電壓為U10=Ui,作為D/A轉(zhuǎn)換器的基準(zhǔn)電壓。D/A轉(zhuǎn)換器由U1及U2復(fù)合而成,均采用電壓輸出型乘法轉(zhuǎn)換器,使基準(zhǔn)電壓即使減小到接近零也可得到較好的比例輸出。數(shù)/模轉(zhuǎn)換器的傳輸系數(shù)K由輸入數(shù)/模轉(zhuǎn)換器U1、U2的數(shù)字信號(hào)決定。因此D/A轉(zhuǎn)換器的輸出電壓為UD/A=Kui。由于A2工作于線性放大狀態(tài)時(shí)兩輸入端嗯位相等,因此A2的反相端電壓為KUi。模擬開關(guān)S1上電流為零,因此連接于通開關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)電阻下端電壓也為KUi,合成電阻的輸入電流通過標(biāo)準(zhǔn)電阻及模擬開關(guān)S2全部流向運(yùn)放A2的輸出端。這樣,施加于標(biāo)準(zhǔn)電阻上的電壓為Ui-KUi,電流為Ii=(Ui-KUi)/Rs。由于運(yùn)放A1的同樣輸入電流為零,則對(duì)輸入端來講,可得合成電阻R=Ui/Ii為:
R=Rs/1-K    (1)
即標(biāo)準(zhǔn)電阻倍增了1/(1-K)倍,而與模擬開關(guān)的導(dǎo)通電阻無關(guān)。當(dāng)K=0時(shí),電阻不變;當(dāng)K=0.9時(shí),電阻放大10倍。可見,可以通過改變D/A轉(zhuǎn)換器的輸入值以調(diào)整K值來改變合成電阻值。標(biāo)準(zhǔn)電阻Rs通過模擬開關(guān)S1、S2選擇為10Ω、100Ω、1kΩ、10KΩ,從而可得到輸出100Ω、1kΩ、10kΩ、100kΩ等連續(xù)電阻量程。電路中,運(yùn)算放大器A1連接成電壓跟隨器的形式,A2接近單位增益,并接入校正電容,因此呆得到穩(wěn)定的合成電阻。

    在電路中,用兩個(gè)D/A轉(zhuǎn)換器復(fù)合可以合成更高的分辨率。如兩片低溫漂高穩(wěn)定性的16位乘法D/A轉(zhuǎn)換器的合成,可以得到20倍以上的分辨率。運(yùn)放A2構(gòu)成了同相加法器,同相端的電壓為:
UDA=R10/(R9+R10)UDA1+R10/(R9+R10)UDA2
取R10=65536R9,則:
UDA=(65536/65536)UDA1+(1/65536)UDA2
這樣即可把兩16位數(shù)/模轉(zhuǎn)換器的輸出拼合成32位輸出,以得到盡可能高的分辨率。
2 誤差分析
式(1)中電阻是基于理想到的,但實(shí)際運(yùn)放由于存在失調(diào)電壓、熱電勢、偏置電流等會(huì)引入誤差。合成電阻施加的電壓較小時(shí),失調(diào)電壓及熱電勢等誤差電壓的影響較大;電流較小時(shí),偏置電流影響較大。在兩級(jí)運(yùn)放中,設(shè)失調(diào)電壓與相應(yīng)的熱電勢等誤差電壓之和分別是Ue1、Ue2,則運(yùn)放A1輸出端及A2反相輸入端的電壓分別為:
Uo1=Ui-Ue1
U2i=KU01-Ue2
其中,K為D/A轉(zhuǎn)換器的傳輸系數(shù)。
再由Ii=(Ui-U2i-)/Rs及R=Ui/Ii,可得合成電阻值為:
R=[Rs-(Kuel+Ues)/Ii]/1-K   (2)
或R=Rs/1-K+(Kuei+Ue2)/Ui    (3)
可見,Ue1、Ue2與合成電阻值有關(guān),回路電阻測試儀合成電阻的設(shè)計(jì),并使電阻變成非線性,當(dāng)Ue1、Ue2為0時(shí),上式退化為(1)式。可見,其誤差不僅與Ue1、Ue2成正比,而且與Ii或Ui成反正,即合成電阻的工作電流電壓越小,相對(duì)誤差越大。如挑選失調(diào)電壓優(yōu)于10μV的低溫漂精密運(yùn)算放大器AD707K,外接失調(diào)調(diào)零電位器調(diào)整后,短期內(nèi)Ue1、Ue2可控制在0.1μV以內(nèi)。此時(shí),如K=0.9,Rs=1kΩ,工作電流在0.2mA時(shí),由(2)式可得Ue1、Ue2引入的誤差接近1ppm,即誤差比K=0時(shí)放大了10倍。
輸入運(yùn)放的偏置電流也會(huì)分流輸入電流而此入較大誤差,其相對(duì)誤差為Ib/Ii。工作于0.2mA時(shí),如采用典型偏置電流為0.5nA的運(yùn)放AD707K,可產(chǎn)生2.5ppm的誤差,如加大工作電流一步減小誤差。采用某些斬波穩(wěn)零的運(yùn)放(如典型失調(diào)電壓為0.5μV、典型偏置電流僅為2pA的TLC2652運(yùn)放),則可以忽略偏置電流的影響,但其輸入噪聲電壓偏大。
3 自動(dòng)校正措施
對(duì)普通電阻,工作電流不同時(shí)會(huì)由于熱效應(yīng)引起溫漂與熱電勢而產(chǎn)生誤差,因此在多數(shù)8位半數(shù)字多用表的電阻測量中,都采取了降低工作電流及消除熱電勢的措施。對(duì)合成電阻,工作電流不同時(shí)還存在運(yùn)放失調(diào)電壓等引起的誤差,而且這些誤差由于溫漂及時(shí)漂等原因并不能長期穩(wěn)定。
此合成電阻是集校準(zhǔn)與7位半分辨率測量功能一體的校準(zhǔn)儀的部件之一,通過測量功能的自校正,可以進(jìn)一步提高精度。然而從式(2)可見,合成電阻與輸入電流有關(guān),而實(shí)際的工作電流與自校正時(shí)的電流又不一定相同,所以Ue1、Ue2引起的誤差并不能直接通過測量阻值來校正。誤差的根據(jù)是Ue1、Ue2。所以有效的辦法是求出并消除Ue1、Ue2,使合成電阻與工作電流無關(guān)。
采用系統(tǒng)自帶的精密電阻測量體系可以求出Ue1、Ue2。具體步驟為:取K=0.9,用激勵(lì)電流為I1的*合適的量程一測得合成電阻為r3;取K=0,用量程一及激勵(lì)電流為I2的稍大的量程二來分別測量合成電阻,得到讀數(shù)r1、r2。回路電阻測試儀合成電阻的設(shè)計(jì),將其電阻及電流值分別代入式(2)并整理,可得:
Ue2=I1Rs-I2r1   (4)
Ue2=I2Rs-I2r2   (5)
0.9Ue1=I1Rs-Ue2-0.1I1r3    (6)
對(duì)式(4)、(5)、(6)求解,得:
Ue1=1.1111I1(r1-0.1r3)   (7)
Ue2=(r1-r2)/(1/I2-1/I1)   (8)
可見失調(diào)電壓可以通過測量電阻及已知的恒流激勵(lì)源來求取。如激勵(lì)電流I1=0.5mA時(shí),讀數(shù)r1為1000Ω。大電阻(20MΩ)量程的激勵(lì)倍增后的r3為10000.018Ω。大電阻(20MΩ)量程的激勵(lì)電流I2=0.5μA即電壓僅5mV時(shí),r2變?yōu)?001.8Ω,此時(shí)可求得Ue1=-1μV,Ue2=-0.9μV。當(dāng)然僅利用(4)、(6)兩式也可得到(7)式及Ue2=I1(Rs-r1),但已知值Rs及測量值r1的來源性質(zhì)不同,會(huì)引入較大誤差。而式(8)中,r1、r2同為測量值,其漂移影響較小。
盡管求出了Ue1、Ue2,但由于施加于合成電阻的電壓或電流不定,所以并不能通過改變K值來消除誤差。有效的辦法是外接D/A轉(zhuǎn)換器來抵消Ue1、Ue2,以徹底消除式(2)、(3)中的非線性項(xiàng)。作者采用了廉價(jià)的10位雙D/A轉(zhuǎn)換器TLC5617的兩個(gè)通道分別對(duì)兩運(yùn)放進(jìn)行補(bǔ)償。

    對(duì)于運(yùn)放A1,接成非單位增益的同相放大電路時(shí),可在反相輸入端加入校零電路。為保持電壓跟隨器形式,設(shè)計(jì)了圖2所示的自動(dòng)失調(diào)調(diào)零電路。AD707K等運(yùn)算放大電路提供了失調(diào)電壓調(diào)節(jié)端,只要在兩調(diào)零端接入電位器至電源端,改變兩調(diào)節(jié)端的輸入電流即可實(shí)現(xiàn)手動(dòng)調(diào)零。作者為實(shí)現(xiàn)自動(dòng)調(diào)零,根據(jù)調(diào)零原理改進(jìn)了調(diào)零電路。
圖中U4的基準(zhǔn)電壓選為2V,則U4的輸出電壓范圍為0~4V。接入R3、R4、R5的目的是提供一個(gè)調(diào)節(jié)范圍的中心位置,使電壓能夠雙向調(diào)節(jié)。對(duì)D707K及圖示的參數(shù),失調(diào)電壓與D/A轉(zhuǎn)換器的輸出電壓間的關(guān)系是線性的。經(jīng)過實(shí)際測試,其靈敏度為7.35μV/V,即0.028V/bit,總調(diào)節(jié)范圍為±14.7μV。運(yùn)算放大器A2采用與A1同樣的調(diào)零方法。
由此可見,可以利用數(shù)/模轉(zhuǎn)換器來消除Ue1及Ue2。由于運(yùn)放失調(diào)漂移較小,可以間隔一定時(shí)間后再次自動(dòng)校正。失調(diào)電壓及1μV以上的熱電勢等誤差電壓均可得于校正。至于運(yùn)放的增益誤差等(如140dB增益時(shí),1V的輸出電壓也會(huì)引起0.1μV的運(yùn)放兩輸入端的誤差),其性質(zhì)與系數(shù)K相同,通過內(nèi)置電阻測量電路的自校正即可消除。因此,合成電阻精度主要取決于電阻測量電路。合成電阻中,D/A轉(zhuǎn)換器的控制、失調(diào)電壓的計(jì)算及其自動(dòng)校正均由內(nèi)置的DSP320C32來實(shí)現(xiàn)。
通過此法合成的電阻,可滿足較高精度電阻測量儀表的校正要求。通過調(diào)整D/A轉(zhuǎn)換器的輸入數(shù)據(jù)及切換標(biāo)準(zhǔn)電阻,可以合成出10Ω~100kΩ的各個(gè)電阻值,且具有很高的分辨率及穩(wěn)定性。其長期穩(wěn)定性也通過測量電路的自校正而得以保證。采用高精度低溫標(biāo)線繞電阻作標(biāo)準(zhǔn)電阻,合成電阻的精度優(yōu)于10ppm。經(jīng)過校正后,合成電阻基本不受工作狀況的影響,所存在的問題是工作電壓受限,合成電阻的頻率響應(yīng)與實(shí)際電阻尚有較大差跟,較適用于直流校驗(yàn)應(yīng)用中。

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